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ES640充電器件模型（CDM）測試系統(tǒng)，充電器件模型（CDM）靜電放電是微電子電路故障的常見原因。較低電壓下的C??DM放電會嚴重損壞或損毀靈敏設(shè)備。當帶靜電的設(shè)備以不同的電位接觸金屬表面時，通常會發(fā)生這種情況。這種靜電放電通常具有非?？斓纳仙龝r間。

CDM 器件充放電測試系統(tǒng)為ESD事件中的器件充放電測試模型， 模擬帶電荷的器件在接觸地低電荷時瞬間放電形成電流，對器件造成損傷和擊壞的過程

ES640 Charged Device Model (CDM) Test System$nCharged Device Model (CDM) electrostatic discharge is a common cause of microelectronic circuit failure.